GBT ?15615 ?硅片抗彎強度測試方法
- Categories:公司新聞
- Author:Jnzcgy
- Origin:濟南中創試驗機
- Time of issue:2021-11-24 08:37
- Views:
(Summary description)本標準適用于晶向為<X11>和<1}>的直拉、懸浮區熔硅單晶片的常溫下抗彎強度的測量。硅片厚度為250-900um
GBT ?15615 ?硅片抗彎強度測試方法
(Summary description)本標準適用于晶向為<X11>和<1}>的直拉、懸浮區熔硅單晶片的常溫下抗彎強度的測量。硅片厚度為250-900um
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適用范圍:
木標準規定了硅單晶切割片、研磨片和拋光片(簡稱硅片)的杭彎強度測試方法。
本標準適用于晶向為<X11>和<1}>的直拉、懸浮區熔硅單晶片的常溫下抗彎強度的測量。硅片厚度為250-900um
依據標準:
GB1 2964硅單晶拋光片
GB 12965硅單晶切割片和研磨片
常用術語:
抗彎強度
試樣破碎時的最大彎曲應力,對脆性材料通常是凸表面最大徑向張應力,表征抗破碎的性能。
小撓度--圓片受到中心載荷彎曲時,圓片中心面彎曲前后的最大位移與圓片厚度比為小量。
方法原理:
制樣方法
1、硅片抗彎強度與硅片內在質量和表面損傷狀況有關,一般力學參數都有一定的分散度,因此每組試樣作研究時需10片左右,抽檢時可按有關抽樣標準或供需雙方商定。
2、試樣表面應符合GB12964或GB12965要求。
3、將試樣用石臘:松香=2:1配成的粘合劑粘在玻璃板上,用直徑40mrn的割圓套頭在臺鉆上割成直徑40mrn的圓片。割圓位置規定如下:直徑小于80mm的硅片在同心圓位置;直徑80rnm以上長硅片在偏離主參考面45。位置割第一個圓。
4、試樣用適當溶劑去臘,用洗滌劑清洗潔凈,去離子水沖洗,烘干后放入干燥器中備用。
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